Chip IC di programmazione originale 256K 32K x 8 5 Volt solo memoria flash Cmos AT29C256-12JC
integrated circuit ic
,integrated circuit components
La programmazione originale IC scheggia 256K 32K x 8 5 Volt solo memoria flash Cmos AT29C256
Solo memoria flash da 256 K (32 K x 8) a 5 volt AT29C256
Caratteristiche
• Tempo di accesso in lettura veloce – 70 ns
• Solo riprogrammazione a 5 volt
• Operazione programma pagina
– Riprogrammazione a ciclo singolo (cancella e programma)
– Indirizzo interno e data latch per 64 byte
• Controllo interno del programma e timer
• Protezione dei dati hardware e software
• Tempi di ciclo del programma rapidi
– Pagina (64 byte) Tempo di programma – 10 ms
– Tempo di cancellazione del chip – 10 ms
• Data polling per il rilevamento della fine del programma
• Dissipazione a bassa potenza
– Corrente attiva 50 mA
– Corrente di standby CMOS 300 µA
• Resistenza tipica > 10.000 cicli
• Alimentazione singola 5V ± 10%.
• Ingressi e uscite compatibili CMOS e TTL
• Intervalli di temperatura commerciali e industriali
Descrizione
L'AT29C256 è una memoria di sola lettura (PEROM) programmabile e cancellabile Flash interna al sistema con soli cinque volt.I suoi 256 K di memoria sono organizzati come 32.768 parole per 8 bit.Prodotto con l'avanzata tecnologia CMOS non volatile di Atmel, il dispositivo offre tempi di accesso fino a 70 ns con una dissipazione di potenza di soli 275 mW.Quando il dispositivo è deselezionato, la corrente di standby CMOS è inferiore a 300 µA.La resistenza del dispositivo è tale che in genere è possibile scrivere su qualsiasi settore oltre 10.000 volte.
Configurazioni pin
Nome pin | Funzione |
LA0 - LA14 | Indirizzi |
CE | Chip abilitato |
O.E | Uscita abilitata |
NOI | Scrivi Abilita |
I/O0 - I/O7 | Ingressi/Uscite dati |
NC | Non connesso |
CC | Non connetterti |
PLCC e LCC vista dall'alto
Nota: i pin 1 e 17 del pacchetto PLCC sono NON COLLEGATI.
TSOP vista dall'alto tipo 1
Per consentire una semplice riprogrammabilità all'interno del sistema, l'AT29C256 non richiede tensioni di ingresso elevate per la programmazione.I comandi a soli cinque volt determinano il funzionamento del dispositivo.La lettura dei dati dal dispositivo è simile alla lettura da una RAM statica.La riprogrammazione dell'AT29C256 viene eseguita in base alla pagina;64 byte di dati vengono caricati nel dispositivo e quindi programmati contemporaneamente.Il contenuto dell'intero dispositivo può essere cancellato utilizzando un codice software a sei byte (sebbene non sia necessaria la cancellazione prima della programmazione).Durante un ciclo di riprogrammazione, le locazioni degli indirizzi ei 64 byte di dati vengono bloccati internamente, liberando l'indirizzo e il bus dati per altre operazioni.Dopo l'avvio di un ciclo di programma, il dispositivo cancellerà automaticamente la pagina e quindi programmerà i dati bloccati utilizzando un timer di controllo interno.La fine di un ciclo di programma può essere rilevata dal polling DATA di I/O7.Una volta rilevata la fine di un ciclo di programma, può iniziare un nuovo accesso per la lettura, il programma o la cancellazione del chip.
Diagramma a blocchi
Valutazioni massime assolute*
Temperatura sotto polarizzazione................................ da -55°C a +125°C
Temperatura di immagazzinamento............................... da -65°C a +150°C
Tutte le tensioni di ingresso (inclusi i pin NC)
rispetto a terra ................................... da -0,6V a +6,25V
Tutte le tensioni di uscita
rispetto a terra ..................................-0,6V a VCC + 0,6V
Tensione su OE
rispetto a terra .................................... da -0,6V a +13,5V
*AVVISO: sollecitazioni oltre quelle elencate in "Valori massimi assoluti" possono causare danni permanenti al dispositivo.Questa è solo una valutazione della sollecitazione e il funzionamento funzionale del dispositivo in queste o in qualsiasi altra condizione oltre a quelle indicate nelle sezioni operative di questa specifica non è implicito.L'esposizione a condizioni di rating massimo assoluto per periodi prolungati può influire sull'affidabilità del dispositivo.