SN74BCT8374ADW
Descrizione:
Dispositivo di prova IC SCAN W/FF 24-SOIC
Categoria:
Chip a circuito integrato
Specifiche
Tipo di logica::
Dispositivo di prova di scansione con Flip-Flop a scatto di bordo di tipo D
Categoria di prodotto::
Amplificatori & linea driver
Stoccaggio::
0
Confezione del fornitore::
24-SOIC
Confezione / Valigia::
24-SOIC (0.295" , larghezza di 7.50mm)
Status della parte::
Attivo
Imballaggio::
Tubo
@ qty::
0
Temperatura di funzionamento::
0°C ~ 70°C
Quantità minima::
1
Numero di bit::
8
Serie::
74BCT
Tipo di montaggio::
Montaggio superficiale
Tensione di rifornimento::
4.5 V ~ 5.5 V
Produttore::
Texas Instruments
Introduzione
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Di riserva:
MOQ: